礦石分析儀
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下載
技術(shù)參數
| 能量分辨率 分析精度RSD 最低檢出限 測定范圍 元素含量分析范圍 分析時(shí)間 | 100±5eV ≤0.05% Na≤0.1%；Mg、Al、Si≤0.05%；P、S、Cl、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe≤0.001% 9F~92U 1ppm—99.99% 30-200秒（時(shí)間可選） |
| 光路結構 樣品旋轉臺 X射線(xiàn)管 1次濾光片 真空系統 自動(dòng)進(jìn)樣器 圓柱腔體 冷卻方式 制冷方式 類(lèi)型 | 適合粉末樣品檢測的上照式結構 電壓：24V，電流：1.5A，旋轉速度：4r/s Ag靶 5種（含OPEN為6種）自動(dòng)切換 功率550W，抽氣時(shí)間：10秒，抽氣速率：4升/秒，真空度：10-2pa，內置停泵防返油裝置 350mm(D)×300mm(W)×500mm(H)，行程150mm 170×39mm 風(fēng)冷（附風(fēng)扇） 電子制冷（無(wú)需液氮） 硅漂移檢測器（FAST-SDD） |
| 測試環(huán)境 溫度 相對濕度 電源 | 大氣、真空 10~30℃（溫度變化2℃hr以?xún)?、溫度變化幅度?0℃以下） 35%-70%（但不得有結露） 輸入電壓：電壓 AC220V±10V，頻率：50Hz±5Hz |
| 分析原理 分析方法 測試對象 照射面積 | X射線(xiàn)熒光分析法 能量色散型 固體·液體·粉末 1、3、5、10mmΦ：4種自動(dòng)切換 |
| 主機尺寸 主機重量 | 700(W)×650(D)×800(H)mm 約85kg |
性能參數
硬件結構
環(huán)境與操作條件
分析測試
尺寸與重量儀器特點(diǎn)
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獨特的上照射式光路結構，測量粉末樣品具有光路短、激發(fā)效率高、不污染探測器、維護方便、測量精度高、穩定性能好 等優(yōu)點(diǎn)； | ||
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采用美國Amptek公司最高性能的硅漂移探測器，結合自主知識產(chǎn)權的數字多道專(zhuān)利分析技術(shù)，儀器的分辨率優(yōu)于100ev (Mnkα），對Na、Mg、Al等輕元素分辨率優(yōu)于60ev，是目前同類(lèi)型儀器分辨率最高的，從而有效的提高了元素特別Na、 Mg、Al等輕元素的檢出限，比其他品牌同類(lèi)儀器高出一個(gè)數量級，成為我們獨特的分析優(yōu)勢之一; | ||
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| 自動(dòng)進(jìn)樣，定位準確，進(jìn)樣空間大，粉末積灰易吸塵處理，維護方便； | ||
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| 樣品可以旋轉測量，360度無(wú)死角測量，可以最大程度減弱樣品表面不均勻帶來(lái)的測量偏差，測量結果更準確； | ||
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真空系統特殊設計，最大限度的提高了輕元素的靈敏度和穩定性。采用有專(zhuān)門(mén)控制單位的真空系統，消除了空氣對低能X 射線(xiàn)的阻擋，30分鐘不漏氣，內置停泵防返油裝置，充氣時(shí)不返油到檢測單元，大大提高了Na、Mg、Al、Si輕元素的檢 測靈敏度； | ||
 工作曲線(xiàn)漂移校準 | ||
采用自動(dòng)尋峰、S標樣測量等方式，通過(guò)校準S標樣達到校準工作曲線(xiàn)的目的，確保了儀器短期穩定性和長(cháng)期穩定性，一般 一年標定一次，無(wú)需頻繁標定。 |
儀器光路結構
